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日本東京國(guó)際測(cè)試,檢查和技術(shù)測(cè)量系統(tǒng)展覽會(huì)
展會(huì)時(shí)間:
2024年1月
展會(huì)地點(diǎn):
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3.0
3星展會(huì)
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距開(kāi)展還剩
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日本東京國(guó)際測(cè)試,檢查和技術(shù)測(cè)量系統(tǒng)展覽會(huì)
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2024年1月
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展會(huì)介紹
英文名稱(chēng):International Exhibition of Test, Inspection and Measuring Systems for SMT, IC Packaging and Board M
舉辦周期:一年一屆
展會(huì)規(guī)模:小于10000

????該展會(huì)自1983年開(kāi)始舉辦,在2008年的展會(huì)上,共有 1072家公司參展,共有54793名觀眾參觀了日本東京國(guó)際測(cè)試,檢查和技術(shù)測(cè)量系統(tǒng)展覽會(huì)(ELECTROTEST JAPAN)。

展品范圍

Test, measurement and image processing equipment for the electronics and semiconductor industry, such as bare board tester, circuit tester, optical measurement, test fixtures, X-ray inspection equipment. Test and inspection in electronics manufacturing and R&D

展館信息
展會(huì)地點(diǎn):
往屆回顧

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展會(huì)報(bào)名
莫斯科克洛庫(kù)斯國(guó)際會(huì)展中心
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